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手持LCR數(shù)字電橋
安柏AT826手持LCR 數(shù)字電橋采用高性能32位ARM微處理器控制。低功耗設(shè)計(jì)和高密度SMD裝配工藝，2.8英寸真彩16M色TFT液晶顯示屏，主副參數(shù)同時(shí)顯示，擺脫了工作臺(tái)的限制,為您移動(dòng) LCR 測(cè)量提供方便。并具有鍵盤,觸摸屏雙控制。采用鋰電池供電，USB通訊。中英文操作界面可快速切換。是目前手持LCR數(shù)字電橋的高配置！
查看詳細(xì)介紹 更新時(shí)間：2023-12-21 -
手持LCR數(shù)字電橋
安柏牌AT824手持LCR數(shù)字電橋采用高性能32位ARM微處理器控制。低功耗設(shè)計(jì)和高密度SMD裝配工藝，2.8英寸真彩16M色TFT液晶顯示屏，主副參數(shù)同時(shí)顯示，擺脫了工作臺(tái)的限制,為您移動(dòng) LCR 測(cè)量提供方便。采用鋰電池供電，USB通訊。中英文操作界面可快速切換。
查看詳細(xì)介紹 更新時(shí)間：2023-12-21 -
LCR 數(shù)字電橋
安柏儀器依賴于專業(yè)的安柏智能儀器技術(shù)，打造出體積小的臺(tái)式數(shù)字電橋。 100Hz，120Hz，1kHz和10kHz四檔測(cè)試頻率，可測(cè)試L, C, R, Z, D, Q六種參數(shù)。 內(nèi)建比較器，使其適合元件分選操作。 較強(qiáng)抗沖擊能力和較好的穩(wěn)定性。 廠家預(yù)置從0.1Vrms至2.0Vrms之間的20點(diǎn)測(cè)試電平的一種。
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LCR數(shù)字電橋
AT816A全自動(dòng)測(cè)試、無(wú)需人為參與，您只需插入L、C或是R，儀器自動(dòng)為您配置成測(cè)試條件，這些包括：自動(dòng)LCR選擇，自動(dòng)量程選擇和等效方式選擇。 同樣，強(qiáng)大的手工測(cè)試，可大程度滿足現(xiàn)有條件測(cè)試：50Hz～200kHz，共計(jì)2.4064萬(wàn)點(diǎn)，Z高到200kHz的測(cè)試頻率，0.01V至2.00V的任意電平，內(nèi)置和外部可輸入的直流偏置，Z大99次平均，14檔分選結(jié)果輸出。
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LCR數(shù)字電橋
安柏AT811 精簡(jiǎn)了全功能型AT810的電路，大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使用安柏科技經(jīng)典的微型機(jī)箱。 內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.3V，1V測(cè)試電平，使其能*一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。 使用安柏科技 AT-OS 2007 微型儀器操作系統(tǒng)，使AT811更易用。
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智能LCR測(cè)試儀
安柏AT810A 采用高性能處理器，使用真彩色LCD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。內(nèi)建10Hz~20kHz 任意測(cè)試頻率設(shè)置，分辨率Z小0.0001Hz，并且提供任意電平設(shè)置，分辨率0.01V，使其能滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
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LCR測(cè)試儀
安柏AT810 采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810僅需微型機(jī)箱即可容納。 內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，使其能*一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
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電感測(cè)試儀
安柏AT776 派生于全能型儀器AT817A，使其具有優(yōu)異性能。 內(nèi)建50Hz~100kHz測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，使其能滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)場(chǎng)合的使用。 內(nèi)置RS232C接口，兼容SCPI編程語(yǔ)言，很容易與計(jì)算機(jī)通訊，完成所有儀器功能。 內(nèi)置Handler接口，配合RS232C接口完成復(fù)雜的自動(dòng)控制系統(tǒng)。
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